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Plattenmesser
Differenzdruck- und Druckübertragungsserie
Peripheriegeräte
Atomkraftmikroskop
Elektronenmikroskop (SEM/TEM/STEM)
Instrument und Zähler
Ultrahochauflösendes Schottfeld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop SU8700
Ultrahochauflösendes Feld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop der Serie SU8600
Erfolgreicher Betrieb!