Ultrahochauflösendes Schottfeld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop SU8700
Mit der raschen Entwicklung von Datenerfassungs- und Datenverarbeitungstechnologien ist das Elektronenmikroskop in eine Ära eingetreten, in der sich nicht nur die Qualität der Daten, sondern auch der Erfassungsprozess konzentriert. Der SU8700 ist ein SEM für ein neues Zeitalter, das auf der hohen Bildqualität und hohen Stabilität von Hitachi Elektroskopen basiert und Funktionen mit hohem Durchsatz wie der automatischen Datenerfassung hinzufügt.
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- Gerätefotos sind optional enthalten.
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Eigenschaften
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Spezifikationen
Eigenschaften
Ultrahochauflösende Beobachtung und hohe Analysefähigkeit
Hitachis High-Brightness Short Field-Elektropistole unterstützt sowohl ultrahochauflösende Beobachtungen als auch schnelle Mikrostrahlenanalysen. Ohne die Verzögerung des Probenstands können hochauflösende Beobachtungen mit einer niedrigen Beschleunigungsspannung von nur 0,1 kV für weitere Anwendungsszenarien durchgeführt werden. Gleichzeitig ist eine Vielzahl neuer Detektoren und einer Vielzahl anderer Optionen verfügbar, um den weiteren Beobachtungsanforderungen gerecht zu werden.
Fortgeschrittene Automatisierungsfunktionen*
Mit EM Flow Creator können Kunden automatisierte Workflows zur kontinuierlichen Bilderfassung erstellen. EM Flow Creator definiert verschiedene SEM-Funktionen als grafische Module, wie zum Beispiel die Einstellung der Vergrößerung, die Bewegung der Probenposition, die Einstellung der Brennweite und des hellen und dunklen Kontrasts. Der Benutzer kann diese Module in logischer Reihenfolge zu einem Arbeitsprogramm zusammensetzen, indem er sie einfach mit der Maus zieht. Nach Debugging und Bestätigung erhält das Programm bei jedem Anruf automatisch qualitativ hochwertige, reproduzierbare Bilddaten.
Leistungsfähige Anzeige- und Interaktionsfunktionen
Native Unterstützung von Doppelbildschirmen für einen flexiblen und effizienten Betriebsraum.
6 Kanäle gleichzeitig anzeigen und speichern, um schnelle Multi-Signal-Beobachtung und Erfassung zu ermöglichen, um mehr Informationen zu liefern.
Ein einziger Scan unterstützt bis zu 40.960 x 30.720 ultrahohe Pixel*
Großes Sichtfeld und hohe Pixel-Bildgebung
Das linke Bild ist ein hochpixeliges Bild mit einem Sichtfeld von etwa 120 μm, ein einziges Scannen von ultradünnen Schnittproben von Ratten erfasst. Vergrößern Sie das Bild des gelben Rechteckbereichs mit einer einfachen Zahl, um das rechte Bild zu erhalten. Das rechte Bild entspricht der 20-fachen Vergrößerung der Zahl des linken Bildes und kann immer noch die innere Struktur der Organe der Nervenzellen eindeutig bestätigen.
Die SU8600 und SU8700 können bis zu 40.960 x 30.720 einzelne Scanpixel aufweisen.*
* Optional
Spezifikationen
Elektronische optische Systeme | Sekundäre elektronische Auflösung | 0.8 nm@15 kV |
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0.9 nm@1 kV | ||
Vergrößern | 20 ~ 2,000,000 x | |
Elektronische Waffe | Schottfeld-Elektronenquelle | |
Beschleunigte Spannung | 0.1 ~ 30 kV | |
Landungsspannung*1,*3 | 0.01 ~ 7 kV | |
Maximaler Strahlstrom | 200 nA | |
Detektoren | Standarddetektoren | Obere Detektoren (UD) |
Unterdetektor (LD) | ||
Optionale Detektoren*3 | Elektronendetektor zur Rückstreuung im Spiegel (MD) | |
Halbleiter-Elektronendetektor mit Rückstreuung (PD-BSE) | ||
Hochempfindliche Niedervakuumdetektoren (UVD) | ||
Scan-Transmittionsdetektoren (STEM) | ||
Optionales Zubehör*2 | Röntgenergiespektrometer (EDS) | |
Elektronischer Rückstreuungsdiffraktionsdetektor (EBSD) | ||
Probentesch | Motorantriebswelle | 5 Achsen Motorantrieb |
Bewegungsbereich | ||
X | 0 ~ 110 mm | |
und | 0 ~ 110 mm | |
Z | 1.5 ~ 40 mm | |
T | -5 ~ 70° | |
R | 360° | |
Probenraum | Probengröße | Maximaler Durchmesser: 150 mm*4 |
Niedervakuummodus | Vakuumbereich | 5 ~ 300 Pa |
- *1
- Im Bremsungsmodus
- *2
- Konfigurierbare Detektoren
- *3
- Optionen
- *4
- Wenn es größere Probengröße Bedürfnisse gibt, kontaktieren Sie uns bitte.
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- Fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB/FIB-SEM)
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