ZeissEin innovatives Zeitalter der Elektronenmikroskopsgeschwindigkeit eröffnet

Mit dem MultiSEM-Mikroskop können Sie die Erfassungsgeschwindigkeit von 91 parallelen Elektronenstrahlen voll nutzen. Heute können Sie Proben im Zentimeter-Maßstab in Nanoauflösung bilden. Dieses ausgezeichnete Scan-Elektronenmikroskop (SEM) ist für einen kontinuierlichen und zuverlässigen Betrieb rund um die Uhr konzipiert. Durch die einfache Einrichtung eines leistungsstarken Datenerfassungsprozesses kann MultiSEM die Bilderfassung mit hoher Linie unabhängig automatisieren.

Steuern Sie MultiSEM mit der bewährten ZEN-Bildverarbeitungssoftware: Sie können alle Funktionen dieses leistungsstarken Scan-Elektronenmikroskops intuitiv und flexibel verwalten.

　　Bilderfassung mit extrem hoher Geschwindigkeit und Nanoauflösung

91 Elektronenstrahlen arbeiten gleichzeitig und bieten eine hervorragende Bildgeschwindigkeit.

Bildgebung einer Region von 1 mm2 in wenigen Minuten mit einer Auflösung von bis zu 4 nm.

Erfassen Sie mit einem optimierten Sekundärelektronik-Detektor mit geringem Signal-Rausch-Verhältnis Bilder mit hoher Linie.

　　Aufnahme und Bildgebung großer Proben

MultiSEM ist mit einer Probenkammer ausgestattet, die 10 cm x 10 cm Proben aufnehmen kann.

Bildgebung der gesamten Probe und die Entdeckung aller Details, die zur Forschung beitragen.

Die automatische Erfassung ermöglicht die Bildgebung großer Flächen - Sie erhalten feine Nanobilder, ohne sichtbare Informationen zu verlieren.

　　ZEN Bildgebungssoftware

Einfache und intuitive Bedienung des MultiSEM mit der bewährten ZEN-Software, die auf alle Zeiss-Bildsysteme eingesetzt wird

Intelligente automatische Einstellung hilft Ihnen bei der Aufnahme von Bildern mit hoher Auflösung und hoher Linie

Erstellen Sie schnell und einfach komplexe, automatisierte Abnahmeprozesse basierend auf der tatsächlichen Situation der Probe

ZEN-Software von MultiSEM ermöglicht kontinuierliche parallele Bildgebung mit hoher Geschwindigkeit

Offene API-Software-Schnittstelle für flexible und schnelle Anwendungsentwicklung

Datenerfassung für kontinuierliche Schnitttomografien von großen Proben

Mit ATUMtome schneiden Sie das biologische Gewebe automatisch aus dem Harz. Sammeln Sie bis zu 1.000 aufeinanderfolgende Schnitte an einem Tag.

Fixieren Sie die Schnitte mit Band auf Siliziumchips und bilden Sie sie mit dem optischen Mikroskop von ZEISS ab. Gesamtbildgebung mit ZEN Imaging Software von ZEISS und den Funktionskomponenten Shuttle & Find. Anschließend wird der Siliziumchip unter das MultiSEM-Elektronenmikroskop verschoben, um die gesamte Probe vorzusehen und das gesamte Experiment mit der Benutzeroberfläche der ZEN-Software zu planen.

Setzen Sie das gesamte Experiment mit einem grafischen Kontrollzentrum ein. Eine effiziente, automatische Schneiderkennung ermöglicht die Identifizierung und Kennzeichnung von Interessenbereichen und spart viel Zeit.