ZEISS Scan-ElektronenmikroskopeEVO Serie

Modulare SEM-Plattform für intuitive Bedienung, Routineprüfung und Forschungsanwendungen

Die EVO-Serie kombiniert leistungsstarke Scannelektroskope mit einer intuitiven und benutzerfreundlichen Benutzeroberfläche, die sowohl erfahrene als auch neue Anwender anzieht. Ob im Bereich der Life Sciences, der Materialwissenschaften oder der routinemäßigen industriellen Qualitätssicherung und Ausfallanalyse, mit einer breiten Auswahl an optionalen Konfigurationen kann EVO auf Ihre Anforderungen zugeschnitten werden.

Vielseitige Lösungen für Mikroskopzentren oder industrielle Qualitätssicherungslabore

Verschiedene Vakuumkammergrößen und Transportoptionen für alle Anwendungsanforderungen - auch für große Proben von Industrieteilen

Mit dem LaB6-Leiter erhalten Sie eine hervorragende Bildqualität

Ausgezeichnete Bildgebung und Analyse von Proben mit nicht leitenden und nicht leitenden Beschichtungen

Mehrere Analysedetektoren können konfiguriert werden, um die Anforderungen einer Vielzahl von Mikroanalyseanwendungen zu erfüllen

Bequeme Verfügbarkeit SmartSEM Touch ermöglicht die interaktive Steuerung des Workflows mit Ihrer Fingerspitze. Es ist einfach zu lernen, reduziert den Aufwand und die Kosten für die Schulung erheblich und sogar neue Benutzer können in wenigen Minuten atemberaubende Bilder aufnehmen. Diese Benutzeroberfläche unterstützt auch industrielle Bediener, die Arbeitsabläufe automatisieren müssen, um wiederholbare Prüfaufgaben durchzuführen.

Ausgezeichnete Bildqualität EVO ist spezialisiert auf die Erhebung qualitativ hochwertiger Daten von Proben, die nicht behandelt und ohne leitende Beschichtung sind. EVO ermöglicht es auch, die Probe in ihrem ursprünglichen Zustand zu behalten und die Datenqualität von wasserhaltigen und schwer verschmutzten Proben aufrechtzuerhalten. Darüber hinaus bietet die Wahl von LaB6-Leitern eine bessere Auflösung, Kontrast und Signal-Rausch-Verhältnis, wenn Bildgebung und Spuranalyse Herausforderungen stellen.

EVO kann mit anderen Geräten verbunden werden EVO kann als Teil eines halbautomatischen, multimodalen Workflows die Integrität der Informationen durch die Neuausrichtung von Interessenbereichen und die Sammlung von Daten auf verschiedene Weise schaffen. Kombinieren Sie optische und Elektronenmikroskopbilder zur Materialcharakterisierung oder zur Teileprüfung oder verknüpfen Sie EVO mit einem ZEISS-Optikmikroskop zur assoziierten Partikelgrößenanalyse.

　　Für mehr Benutzer geeignet

Bequem für erfahrene und Anfänger

In der realen Laborumgebung ist der Betrieb von SEM in der Regel ein ausschließlicher Bereich für Mikroskop-Experten. Die Bedienung von SEM wird jedoch für Nicht-Experten eine Herausforderung, wie Studenten, Auszubildende oder Qualitätsingenieure, die oft auch Daten aus SEM abrufen müssen. EVO berücksichtigt die Bedürfnisse beider Benutzergruppen, und die Benutzeroberflächenoptionen sind sowohl für erfahrene Mikroskopespezialisten als auch für nicht-professionelle Benutzer geeignet.