Schnelle und genaue Analyse von Nanochichtungen

FT160SchreibtischXRFAnalyzer zur Messung von heutePCB-LeiterplattenKleine Teile an Halbleitern und Mikroverbindern. Die Fähigkeit, kleine Bauteile genau und schnell zu messen, hilft, die Produktivität zu steigern und kostspielige Nachbearbeitungen oder Komponentenausfall zu vermeiden.

FT160Polykapillare optische Komponenten können weniger als50 μmAusgezeichnet durch eine nanoskalierte Beschichtung, bietet Ihnen die fortschrittliche Detektortechnologie eine hohe Präzision, während die Messzeiten kurz bleiben. Weitere Funktionen wie ein großer Probenstand, eine breite Probenkabine, eine HD-Probenkamera und ein robustes Beobachtungsfenster ermöglichen es, Gegenstände unterschiedlicher Größen einfach zu laden und Interessenbereiche auf großen Substraten zu finden. Der Analysator ist einfach zu bedienen und mit IhremQA / QCDie nahtlose Integration von Prozessen warnt Sie vor Problemen.

Produkte Highlights

FT160Die Optik- und Detektortechnik ist speziell für die Analyse von Mikroflecken und ultradünnen Beschichtungen konzipiert und auf minimale Eigenschaften optimiert.

Großes Beobachtungsfenster zur Sicherung der Analyse aus sicherer Entfernung

Die Messmethode entsprichtnach ISO 3497undnach ASTM B568undnach DIN 50987Standard

IPC-4552BundIPC-4553AundIPC-4554undIPC-4556Konsistenzbeschichtungsprüfung

Automatische Charakterisierung für die schnelle Probeneinstellung

Auswahl der für Ihre Anwendung optimierten Analyzerkonfiguration

in weniger als50 μmMerkmale der Messung von Nano-Beschichtungen

Verdoppeln Sie den Analysefluss herkömmlicher Instrumente

Große Proben in verschiedenen Formen

Langlebige Konstruktion für langfristige Produktionen