Park Systems Atomkraftmikroskop XE-7

Instrumenteinleitung:

Ultra-kostengünstige Nanosphärenforschungsgeräte. Einzigartiges dreichsiges Trennungsdesign, das sowohl den gekoppelten Effekt von XYZ in drei Richtungen gewährleistet, als auch im Prinzip die Entfernung von Ebenenverzerrungsfehlern; Gleichzeitig erweitert der unabhängige Z-Achse-Scanner den Anwendungsbereich der Probe erheblich, indem er einen echten kontaktlosen Scan ermöglicht. Der direkte optische Weg von oben nach unten erleichtert die Beobachtung von Sonden und Proben durch den Benutzer und die speziell entwickelte Installationsmethode der Sonde vereinfacht den Prozess der Einstellung des optischen Weges und verringert die Betriebsschwierigkeit.

Technische Parameter des Atomkraftmikroskops XE-7 von Park Systems:

Scanner

XY-Scanner

Flexibel geführter Schließkreissteuerungs-Einmodulscanner

Scanbereich 10μm * 10μm (optional 50μm * 50μm, 100μm * 100μm)

Ebene Offset: <2nm (40μm * 40μm Scan)

Z-Scanner

Flexible Führung leistungsstarker Scanner

Scanbereich 12μm (optional 25μm)

Resonanzfrequenz: > 5 kHz

Oberflächenbildgeräusch: 0,03 nm

Probentesch

Probengröße: 100mm * 100mm * 20mm

Probengewicht: Zui 500g

Bewegungsbereich des Probentisches: 13mm * 13mm

Hauptmerkmale:

Genaues XY-Richtungsscan, das Kreuzkopplungsfehler vollständig eliminiert

● Verwendung von unabhängigen geschlossenen XY-Flachplattenscannern und Z-Achsenscannern

● Flachplattenscanner mit minimalen Restbiegefehlern

• Der horizontale lineare Fehler im gesamten Scanbereich ist kleiner als 2nm

• Genaue Höhenmessung

Zwei, Non-Contact ™ Der (wirklich berührungsfreie) Modus verlängert die Lebensdauer der Nadelspitze und bietet eine hohe Auflösung und Schutz für Proben

● Z-Servo-Geschwindigkeit ist zehnmal so hoch wie ein piezoelektrisches Keramikrohr

● Berührungsloser Modus reduziert den Verschleiß der Nadelspitze und verlängert die Lebensdauer

Bessere Bildauflösung als ähnliche Atommikroskope

Verbesserte Probenkompatibilität und verbesserte Scangenauigkeit

Zui-reiche Funktionserweiterung

Unterstützung mehrerer SPM-Modus

• Unterstützung für mehrere optionale Messmodi

● Unterstützung einer Vielzahl von optionalen Zubehör, erweiterte Leistung

Zui für einfache Verwendung

● Offener Probenraum zur Verbesserung der Effizienz des Proben- und Nadelversatzes

● Vorausrichtung der Nadelspitze und coaxial direktes optisches Pfad ermöglichen intuitive Laserausrichtung

● Schloss für einfaches Abnehmen des Scankopfs