Shanghai Mikro Selbstkontrolltechnologie Co., Ltd.
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NUMERIK JENA LIKgo offene Raster
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Produktdetails

LIKgoJa.NUMERIKJENANeue, speziell entwickelte Linienraster mit kleinen Abmessungen, die den Anforderungen der Kunden besser entsprechen.

  • Kompakter, leichter Lesekopf

  • 20umTorabstand, Messabstand erreichbar78.125nm

  • Neue Drei-Fenster-Scan-Technologie verbessert die Signalqualität

  • Keine Phasen- und Verschiebungsfehler

  • Niedrigere Segmentierungsfehler

  • Niedriger Stromverbrauch und Wärmeaufbau

  • Die eingebaute Aufteilung der Lesekopfe inTTLSignal ohne zusätzliche Elektronik

  • Elektronische Regelung nach der Installation zur Reduzierung statischer Installationsfehler

  • VerbessertADJUSTMENT TOOLVerbinden



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