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MIJ-15LAI/K2 Fixed Blattflächenindexer
MIJ-15LAI / K2 Fixed Blatt Flächenindexometer ist ein von der japanischen EMJ Company hergestelltes Fixed-Instrument, das sich für die Festbeobachtung
Produktdetails

MIJ-15LAI/K2 Fixed Blattflächenindexer

MIJ-15LAI / K2 Fixed Blatt Flächenindex ist ein stationäres Instrument, das von der japanischen EMJ Company hergestellt wird, das für die stationäre Beobachtung geeignet ist, mit spektrometrischen Messmethoden (PAR (400-700 nm) und NIR (700-1000 nm)), die nur die Reflexion und Absorption von Chlorophyll in den Blatten enthalten, um den Blatt Flächenindex durch das spektrale Durchlässigkeitsverhältnis von NIR und PAR zu messen, so dass es nicht erforderlich ist, einen Sensor außerhalb des Dachs zu installieren, sondern einfach dieses Gerät in dem Dach zu installieren, um kontinuierliche Daten zu erhalten, wenn ein Datenlogger installiert ist, kann die jährliche Änderung des LAI auf unbemannte Weise gemessen werden.


Hauptmerkmale

  • Echt. LAIMessung, die nur auf Chlorophyl enthaltende Stellen reagiert

  • IgnorierenPAIPAI: Messwerte umfassen trockene Blätter, Zweige, Stämme usw.)

  • Die einzige Anwendung der WeltPARundNIRStärke undLAIVerwandte Sensoren

  • KannKeiner.OperationenKontinuierlich, automatischMessungen(Benötigt in Kombination mit einem Datenlogger)


Messbild

Hauptparameter

Messbereich

0~5,000μE

Ausgabe

Spannung (bezeichnet als###. ##μE/mVKalibrierungskoeffizienten)

Systemempfindlichkeit:

PAR/10mV at 2300uE

NIR/5mV at 1300uE

Konvertierungsformel

LAI=2.80In(NIR/PAR)+0.69*

Temperatureffekt

<±0.1/DEG

EinzelBit

PAR & NIR(μmolS-1m-2)

Reaktionsgeschwindigkeit

0.2u/Sec

EingangswinkelGradEigenschaften

kleiner als±1.5%

Eigenschaften des Drehwinkels

kleiner als±0.5%

MaterialQualität

Gehäuse:A5052 Beschichtung: Anodisiertes Aluminium Diffuser:PTFE

Temperaturbereich

-40~80℃

Form

126mm(W)60mm(D)×49mm(H)

Gewicht

500g

HafenZuweisung

Weiß+Schwarz.-

Herkunft und Hersteller: Japan EMJ


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