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LCD-Leitpartikelinspektionsmikroskop MX12RT
LCD-Leitpartikel-Inspektionsmikroskop MX12RT ist ein neues Halbleiter-/FPD-Inspektionsmikroskop MX12RT, das die Inspektion von 300 mm Wafer und 17-Zol
Produktdetails
LCD-Leitpartikel-Inspektionsmikroskope werden durch ein umfassendes Ergonomie-Design verbessert, um den Benutzern eine komfortablere, flexible und schnellere Bedienungserfahrung zu bieten.
Höhenwinkeleinstellbare Beobachtungskammer
0-35 ° Beobachtungswinkel verstellbar, geeignet für Benutzer mit unterschiedlicher Höhe, reduziert die Anforderungen an die Arbeitsumgebung, so dass verschiedene Benutzer einen qualitativ hochwertigen Beobachtungswinkel finden können, reduziert das Unbehagen und die Müdigkeit durch lange Arbeitsstunden und verbessert die Arbeitsproduktivität erheblich.
Neuer Kupplungsantrieb
Der MX12R verfügt über einen Kupplungsgriff, so dass der Benutzer den Kupplungsschlüssel drücken kann, um die Plattform flexibel zu bewegen, ohne den Griff lange zu klemmen; Drücken Sie die Kupplungstaste, um die Schnellbewegung abzubrechen. Vermeiden Sie das Phänomen der Hanfnahme bei langen Betrieben und beschleunigen Sie die Beobachtungsgeschwindigkeit. Der MX12R führt einen Präzisionsschienengantrieb ein, der sich leichter und reibungsloser bewegt und das Produkt stabiler und zuverlässiger macht.
Sicherer, schneller elektrischer Objektivumsetzer
Mit zwei-Gang-Schaltmodus Vorwärts und Rückwärts können Sie schnell und präzise auf die gewünschte Beobachtungsvergrößerung und eine hohe wiederholte Positionierungsgenauigkeit positionieren. Der mechanische Schaltmodus erhöht effektiv die Lebensdauer des Wandlers.
Tasten in Reichweite, um Ihre Produktivität zu steigern
Der MX12R Objektiv und die Aperturlampe verfügen über ein neues elektrisches Steuersystem, dessen Bedientasten direkt vor dem Gerät und in Ihrer Reichweite stehen. Das menschenfreundliche elektrische Design verhindert nicht nur häufige manuelle Schritte, sondern macht Ihre Prüfung auch präziser und flexibler.
Erschütterungssichere Gestaltung
Der Körper wird von sechsendeigen Ständern unterstützt, niedrigem Schwerpunkt, hoher Stabilität Vollmetall-Ständer, mit einer leistungsstarken seismischen Funktion, um die Bildqualität zu gewährleisten.
Reiche Anwendungsbereiche
Der MX12R integriert eine Vielzahl von Beobachtungsfunktionen wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation und DIC. weit verbreitet in Halbleitern, FPD、 Prüfung von Schaltungsverpackungen, Schaltungsunterlagen, Materialien, Metallkeramikteilen, Präzisionsschleifmitteln usw.
Konfigurationsparameter des LCD-Leitpartikel-Prüfmikroskops MX12RT
Optische Systeme |
Unbegrenzte Farbdifferenzkorrektionsoptik |
Beobachtungsweise |
Hellfeld / Dunkelfeld / Polarisierung / DIC |
Beobachtungskammer |
Dreifach-Scharnier, 0-35° Neigungsverhältnis, genau, Augenaufstand verstellbar: 50-76 mm, Spektralverhältnis 100:0 oder 0:100 |
Brille |
Flachfeldbrille PL10X/25mm mit hohem Blickfeld, verstellbare Sicht, mit einer Kreuzteilung in einer Skala |
Objektive |
Infinite Vision Dunkelfeld Semi-Multiphase DIC Objektiv 5X 10X 20X 50X 100X |
Unbegrenzte Lange Arbeitsabstand Helle Dunkelfeld Halbphase DIC Objektiv 20X | |
Unbegrenzte Lange Arbeitsabstand Helle Dunkelfeld Halbphaseobjektiv 50X 100X | |
Konverter |
Hell and Dark Field Sechsloch-Stromwandler mit DIC-Steckplatz |
Rack-Gruppe |
Reflexierendes Gestell mit grobem koaxialen Fokusmechanismus in der vorderen niedrigen Hand. Weite 35 mm, Feinabstimmungsgenauigkeit 0,001 mm. Verstellbares Entspannungsgerät mit Ablaufverhinderung und zufälliger Obergrenze. Integriertes 100-240V Breitspannungssystem |
Umkehrregel, niedrige vordere Hand mit grober koaxialer Fokussierung. Weite 35 mm, Feinabstimmungsgenauigkeit 0,001 mm. Verstellbares Entspannungsgerät mit Ablaufschutz und zufälliger Obergrenze. Integriertes 100-240V Breitspannungssystem | |
Laststelle |
Rechte Position 14 x 12 Zoll dreischichtige mechanische bewegliche Plattform, niedrige Position X, Y-Richtung koaxiale Einstellung; Plattformfläche 718mmX420mm, Bewegungsbereich: 356mmX305mm |
Mit Kupplungsgriff für schnelle Bewegungen im gesamten Fahrbereich; Glasträgerplatten (zum Reflexieren) | |
Elektrische Plattformen |
Fläche 495mmX641mm, Bewegungsbereich: 306mmX306mm; Softwaresteuerung X, Y Bewegung, wiederholte Positionierungsgenauigkeit, (3 + L / 50) μm mit Flachplattform |
Beleuchtungssystem |
Helle und dunkle Feld reflektierende Beleuchtung, mit variabler elektrischer Apertur Licht Appendix, Sichtfeld Licht Appendix, Zentrum verstellbar; Lichtschalter mit Dunkelfeldbeleuchtung; Filter- und Polarisationsslots |
Fotokamera Zubehör |
0,5X/0,65X/1X Kamerablinse, Schnittstelle Typ C, fokussierbar |
Sonstiges |
Polarisierungsspiegel-Steckplatte, stationäre Inspektionsspegel-Steckplatte, Reflexionsinterferenzfiltergruppe; Hochpräzise Mikrometer; DIC-Komponenten |
LCD-Leitungspartikel-Prüfmikroskop-Foto-Diagramm:
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