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FT110A | Desktop-XRF-Beschichtungsdickenmesser
Der FT110A ist ein Desktop-XRF-Analyzer, der die Herausforderungen der Beschichtungsanalyse in der Produktion bewältigt
Produktdetails

Produktvorstellung

Der FT110AEs ist ein Tisch.XRFAnalysatoren, die die Herausforderungen der Beschichtungsanalyse in der Produktion bewältigen. MächtigXDie Strahlenfluorescenz-Technologie in Kombination mit der automatischen Positionierfunktion hilft, die Produktivität in der Galvanisierungswerkstatt zu steigern und gleichzeitig sicherzustellen, dass die Komponenten hohen Standards entsprechen.

Genauigkeit und Zuverlässigkeit unterstützen die QualitätskontrolleXRFDer Kern der Analyse undDer FT110AEs bietet die Genauigkeit, die heute für galvanisierte Komponenten erforderlich ist. Das aktualisierte Bildgebungssystem, die automatische Positionierung der Proben und der große Probenstand machen den Analyzer sehr einfach zu bedienen, erhöhen den Durchfluss und verringern menschliche Fehler. LeistungsstarkDer FT110ADie Möglichkeit, bis zu vier Schichten und Substrate gleichzeitig zu messen, unterstützt Ihre Anlage rund um die Uhr bei der Erfüllung der höchsten Branchenstandards für Galvanisierung.

Produkteigenschaften

Speziell für die Produktion mit hohem Durchsatz entwickeltDer FT110AWie Sie Ihre Qualitätskontrolle unterstützen können.

Leistungsstarke Technologie mit hoher Empfindlichkeit liefert Ergebnisse in Sekunden

Schädigungsfreie Prüfung der Sicherheit der Fertigprodukte

Automatisierung steigert die Produktivität

Analyse von bis zu vier Schichten und Substraten plus Galvanisierungsflüssigkeit

Einfach für nicht-professionelle Bediener zu bedienen

Die Messmethode entsprichtnach ISO 3497undnach ASTM B568undnach DIN 50987

Große Probenkammer für verschiedene Proben

Anpassbare Optionen für Ihre Anwendung


Technische Parameter

Der FT110A

Elementbereich

Ti - U

Detektoren

Positive Zähler-System

Design der Probenkammer

Öffnen oder Schlitzen

Anzahl der Straighten

2 oder4

Minimal Gleichrichter

0,025 x 0,4 mm

XYAuswahl der Wellenprobe

Steuerung oder Fixierung

XYAchsen Probe Tisch Prozess

250 x 200 mm

ProgrammsteuerungZAchsenlauf

150 mm

Maximale Probengröße

500 x 400 x 150 mm

Musterfokus

Laserfokussierung und optionale Autofokussierung

Beispielansicht

Kameraansicht und optionale zweite Weitwinkelkamera

Messpunkterkennung

Optional

Software

Röntgenstation

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Erfolgreicher Betrieb!

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