
Produktvorstellung
Der FT110AEs ist ein Tisch.XRFAnalysatoren, die die Herausforderungen der Beschichtungsanalyse in der Produktion bewältigen. MächtigXDie Strahlenfluorescenz-Technologie in Kombination mit der automatischen Positionierfunktion hilft, die Produktivität in der Galvanisierungswerkstatt zu steigern und gleichzeitig sicherzustellen, dass die Komponenten hohen Standards entsprechen.
Genauigkeit und Zuverlässigkeit unterstützen die QualitätskontrolleXRFDer Kern der Analyse undDer FT110AEs bietet die Genauigkeit, die heute für galvanisierte Komponenten erforderlich ist. Das aktualisierte Bildgebungssystem, die automatische Positionierung der Proben und der große Probenstand machen den Analyzer sehr einfach zu bedienen, erhöhen den Durchfluss und verringern menschliche Fehler. LeistungsstarkDer FT110ADie Möglichkeit, bis zu vier Schichten und Substrate gleichzeitig zu messen, unterstützt Ihre Anlage rund um die Uhr bei der Erfüllung der höchsten Branchenstandards für Galvanisierung.
Produkteigenschaften
Speziell für die Produktion mit hohem Durchsatz entwickeltDer FT110AWie Sie Ihre Qualitätskontrolle unterstützen können.
Leistungsstarke Technologie mit hoher Empfindlichkeit liefert Ergebnisse in Sekunden
Schädigungsfreie Prüfung der Sicherheit der Fertigprodukte
Automatisierung steigert die Produktivität
Analyse von bis zu vier Schichten und Substraten plus Galvanisierungsflüssigkeit
Einfach für nicht-professionelle Bediener zu bedienen
Die Messmethode entsprichtnach ISO 3497undnach ASTM B568undnach DIN 50987
Große Probenkammer für verschiedene Proben
Anpassbare Optionen für Ihre Anwendung
Technische Parameter
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Der FT110A |
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Elementbereich |
Ti - U |
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Detektoren |
Positive Zähler-System |
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Design der Probenkammer |
Öffnen oder Schlitzen |
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Anzahl der Straighten |
2 oder4 |
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Minimal Gleichrichter |
0,025 x 0,4 mm |
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XYAuswahl der Wellenprobe |
Steuerung oder Fixierung |
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XYAchsen Probe Tisch Prozess |
250 x 200 mm |
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ProgrammsteuerungZAchsenlauf |
150 mm |
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Maximale Probengröße |
500 x 400 x 150 mm |
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Musterfokus |
Laserfokussierung und optionale Autofokussierung |
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Beispielansicht |
Kameraansicht und optionale zweite Weitwinkelkamera |
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Messpunkterkennung |
Optional |
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Software |
Röntgenstation |
