Produktanwendung:
BXJ-650Tragbares MetallphasemikroskopFür eine Vielzahl von großen Werkstücken vor Ort zur Metallphase-Prüfung und zur Fehleranalyse geeignet Mikroskop, es muss keine Probenahme schneiden, direkt auf das Werkstück schleifen und polieren, um die Integrität des Werkstücks zu gewährleisten. Der Mikroskopboden ist mit einem magnetischen Absaugsitz ausgestattet, der direkt an das Werkstück befestigt wird, um die Metallphase-Prüfung des Gewebes vor Ort zu beobachten. Es kann in Fabriken und Laboren für die Qualitätsbestimmung von Gussstücken, die Rohstoffprüfung oder die Forschungsanalyse der metallischen Struktur nach der Materialverarbeitung eingesetzt werden.
Merkmale des Instruments:
▲ Mit Leichtigkeit zu tragen, voll funktional, hohe Klarheit Eigenschaften, spezielle Struktur, mit der Beobachtung vor Ort und Labor Beobachtung zwei Funktionen, Drei-Loch-Objektiv-Konverter-Objektiv freie Konvertierung, variable einfache Positionierung genau, kann unter verschiedenen Vergrößerungen beobachtet werden, um klare und echte metallische Gewebeform
▲ Unbegrenztes Fernlicht-System, große Bildtiefe, auch wenn die Feldprobenprobe ungleich ist, das Bild ist klar, mit einem groben, fein eingestellten Struktur-Fokussystem, schnelle und praktische Fokussierung
▲ Schnelles mechanisches Polieren, kein Schleifpapier, keine Elektrolyse,3-5Minutenprobenfertigung, Mikroschleifmaschine, keine polare Drehzahleinstellung, keine Wechselstromversorgung vor Ort
Technische Parameter:
Optisches System: Optisches System mit begrenzter Farbdifferenzkorriktur
Beobachtungskammer: Einblickbeobachtungskammer
Konverter: Drei-Loch-Objektiv-Konverter mit innerer Positionierung
Große SichtBrille:WF10X(Φ18 mm)
Langstreckenfarbenfarbende Objektive:10xund20xund40x
Optische Gesamtvergrößerung:100×-400×
Magnetische Basis:XYBewegung der Basis,Absorptionskraft25N/cmmit magnetischem Schalter ausgestattet.
Lichtversorgung:6V3W LEDBeleuchtung, Aufladung von Lithiumbatterien
Kameraeinrichtung: Sony Chip500Kameraeinrichtungen,WIFIDrahtlose Übertragung
