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12 Zoll große Arbeitsplattform Halbleiter / FPD Inspektionsmikroskop
Neues Halbleiter-/FPD-Inspektionsmikroskop mit 12-Zoll-Arbeitsplattform, das die Inspektion von 300-mm-Wafern und 17-Zoll-Flüssigkristallplatten maxim
Produktdetails

Halbleiter-/FPD-Prüfmikroskope mit 12 Zoll großer Arbeitsplattform bieten den Anwendern eine effiziente optische Halbleiter-/FPD-Prüflösung


半导体/FPD检查显微镜


Höhenwinkeleinstellbare Beobachtungskammer

0-35 ° Beobachtungswinkel verstellbar, geeignet für Benutzer mit unterschiedlicher Höhe, reduziert die Anforderungen an die Arbeitsumgebung, so dass verschiedene Benutzer einen guten Beobachtungswinkel finden können, reduziert das Unbehagen und die Müdigkeit durch lange Arbeitsstunden und verbessert die Arbeitsproduktivität erheblich.


观察筒


Neuer Kupplungsantrieb

Der MX12R verfügt über einen Kupplungsgriff, so dass der Benutzer den Kupplungsschlüssel drücken kann, um die Plattform flexibel zu bewegen, ohne den Griff lange zu klemmen; Drücken Sie die Kupplungstaste, um die Schnellbewegung abzubrechen. Vermeiden Sie das Phänomen der Hanfnahme bei langen Betrieben und beschleunigen Sie die Beobachtungsgeschwindigkeit. Der MX12R führt einen Präzisionsschienengantrieb ein, der sich leichter und reibungsloser bewegt und das Produkt stabiler und zuverlässiger macht.


载物台手柄


Sicherer, schneller elektrischer Objektivumsetzer

Mit zwei-Gang-Schaltmodus Vorwärts und Rückwärts können Sie schnell und präzise auf die gewünschte Beobachtungsvergrößerung und eine hohe wiederholte Positionierungsgenauigkeit positionieren. Der mechanische Schaltmodus erhöht effektiv die Lebensdauer des Wandlers.


物镜转换器


Tasten in Reichweite, um Ihre Produktivität zu steigern

Der MX12R Objektiv und die Aperturlampe verfügen über ein neues elektrisches Steuersystem, dessen Bedientasten direkt vor dem Gerät und in Ihrer Reichweite stehen. Das menschenfreundliche elektrische Design verhindert nicht nur häufige manuelle Schritte, sondern macht Ihre Prüfung auch präziser und flexibler.

Erschütterungssichere Gestaltung

Der Körper wird von sechsendeigen Ständern unterstützt, niedrigem Schwerpunkt, hoher Stabilität und vollem Metall, mit einer guten Erdbebenbeständigkeit, um die Bildqualität zu gewährleisten.


防震支架


Integrierte flexible Handhabung

Der Gehäuse des MX12R ist aus vollem Metall und bietet eine ausgezeichnete Stabilität. An beiden unteren Enden ist eine eingebaute Handhabungsvorrichtung vorhanden, bei der Handhabung muss der Benutzer einfach den eingebauten Handgriff herausdrehen und umgekehrt einschrauben, um eine robuste Handhabungsvorrichtung zu bilden. Diese Einrichtung ist in der Lage, das Gewicht der Maschine gleichmäßig zu verteilen, nur zwei Personen können die Handhabung beenden, um effektiv zu vermeiden, dass es im Handhabungsprozess keine Hand geben kann, Bewegungsschwierigkeiten, ungleichmäßige Gewichtsverteilung, Kollisionen und viele andere Probleme. Um die Bewegung der Plattform zu verhindern, kann die Plattform fest verschlossen werden, um die Sicherheit und Stabilität des Instruments zu gewährleisten.



Fallbeleuchtung

Die Apertur wird automatisch mit der Objektivvergrößerung abgestimmt, ohne manuelle Anpassung, schneller und effizienter, so dass verschiedene Benutzer den gleichen Beobachtungseffekt haben.

Im Dunkelfeldmodus öffnet sich das Licht automatisch, was die technischen Anforderungen an das Mikroskop reduziert und die Mikrobeobachtung vereinfacht.


落射照明器


Erfüllen Sie die Anforderungen der Automatisierung

• Der neu aktualisierte MX12RMOT mit vollautomatischem Betriebsmodus macht Ihre Prüfung effizienter.

● X / Y / Z dreiassige elektrische Steuerung, elektrische Objektivumstellung, automatische Abstimmung der Apertur.

● Die Bewegung der 12-Zoll-Plattform X, Y und Z-Achse kann über Software oder Griff gesteuert werden, um die Bild-Spleifung zu vervollständigen, um die Beobachtung und Analyse des globalen Bildes perfekt durchzuführen.

● Der unabhängige Bediengriff macht die Bewegung der Plattform einfacher und bequemer und verhindert Schäden an der Plattform, die aufgrund unsachgemäßer Bedienung verursacht werden.


平台半导体/FPD检查显微镜


Reiche Anwendungsbereiche

Der MX12R integriert eine Vielzahl von Beobachtungsfunktionen wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation und DIC. weit verbreitet in Halbleitern, FPD、 Prüfung von Schaltungsverpackungen, Schaltungsunterlagen, Materialien, Metallkeramikteilen, Präzisionsschleifmitteln usw.



Vielfältiges Zubehör für eine Vielzahl von Arbeitsumgebungen und Beobachtungsmustern bietet Ihnen realistische, klare Mikrobilder

Internationale Spitzenbrille

● Mit einer Breitfeldbrille von 25 mm ist das Sichtfeld im Vergleich zu einem herkömmlichen 22 mm-Sichtfeldbereich flacher und breiter, und die Sichtfeldrande können geschützt werden

Klar und hell, um dem Benutzer ein komfortableres visuelles Gefühl zu geben.

• Bereitstellen Sie einen flacheren Beobachtungsbereich und erhöhen Sie die Arbeitsproduktivität. Größere Wertbereichsregulationsbereiche erfüllen die Anforderungen von mehr Benutzern.



Lange Arbeitsabstand Objektive

● Komplette Reihe von professionellen halbfarbigen Metallobjektiven mit hoher Durchlässigkeit und fortgeschrittener Beschichtungstechnik.

● Lange Arbeitsabstand-Design, um effektiv zu vermeiden, dass der Benutzer beim Wechsel Objektive und Proben kollidieren. Konfigurieren Sie 20X Langstreckenobjektive für die Anforderungen der industriellen Prüfung.

Jedes Objektiv ist streng ausgewählt mit hoher Durchlässigkeit und fortgeschrittene Beschichtungstechnik, um die natürliche Farbe der Probe zu wiederherstellen.



物镜参数.jpg


Normansky Differential Interference Lining System

Mit einer hochleistungsfähigen Differenzialinterferenzkomponente können feine, nicht erkennbare Differenzen unter der Beobachtung des Hellfeldes in eine hohe Kontrastdifferenz umgewandelt werden und in Form von stereorelevanten Reliefs dargestellt werden, die weit verbreitet in LCD-leitfähigen Partikeln, Präzisionsscheibenoberflächenratszerkennung und anderen Bereichen verwendet werden.




Systemkonfigurationsdiagramm



Dimensionsdiagramm


12寸大工作平台半导体/FPD检查显微镜外形尺寸


12 Zoll große Arbeitsplattform Halbleiter / FPD Inspektionsmikroskop Technische Spezifikationen

MX12R技术规格.jpg


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